Preskočite na sadržaj

Grupa za fiziku površina i materijala

Glavni dio znanstvenog rada Grupe za fiziku površina i materijala (engl. Group for Surface and Materials Science, kraće GSMS) vezan je uz analizu površina i unutrašnjosti materijala korištenjem visokovakumskih analitičkih tehnika: spektroskopija fotoelektrona rendgenskim zrakama (engl. x-ray photoemission spectroscopy, XPS) i masena spektrometrija sekundarnih iona (engl. secondary ion mass spectrometry, SIMS). Teme istraživanja uključuju narastanje i ispitivanje kemijskog sastava tankih oksidnih slojeva na površinama metala metodom ionske implantacije, karakterizacija nečistoća i točkastih defekata u poluvodičkim ili izolatorskim filmovima narastanih različitim tehnikama depozicije.

Odabrani radovi

Nudimo

  • Određivanje elementnog sastava materijala (engl. Elemental analysis of materials)
  • Analiza kemijskih veza na površinama materijala (engl. Chemical bond analysis on material surfaces)
  • Implantacija materijala niskoenergetskim ionima (engl. Low-energy ion implantation)

Tražimo

  • Određivanje kristalografske strukture materijala (engl. Crystalographic structure determination of materials)
  • Mjerenje optičke apsorpcije materijala u UV-Vis području (engl. Optical absorption measurement in UV-Vis range)
  • Izračun energetske strukture čvrstih materijala (engl. Energy structure computation of solid materials)

Kontakt